多層膜ミラーにより集光された高輝度Ｘ線を試料に照射し, 得られる回折/散乱強度を半導体二次元検出器(PILATUS)で迅速にデジタルデータ化できます。

• 本体はリガク製Nano-Viewer、CuKα線（波長 0.154 nm)
• 穴開きイメージングプレートを利用し、広角・小角の同時測定も可能
• カメラ長はおよそ100 mm ～ 1300 mm
• 小角散乱解析用ソフト「Nano-Solver」が付属
• 透過と反射（微小角入射)の両測定法に対応した加熱冷却フォルダを利用可能
• 反射測定については、雰囲気制御も可能（窒素ガス、アルコール蒸気など）
• リンカム製　加熱冷却引張フォルダおよびせん断フォルダ、リガク製 DSCフォルダを利用可能

	加熱冷却引張フォルダを用い、イメージングプレートによる広角回折とPILATUSによる小角散乱の同時測定を行っている様子

京都大学化学研究所　共同利用・共同研究拠点の設備であり、共同利用を受け付けています。詳しくは、下記担当者までご連絡ください。
京都大学　化学研究所　山子研究室 准教授　登阪雅聡 (e-mail: tosaka<- at ->＠scl.kyoto-u.ac.jp)